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產(chǎn)品型號(hào):TSD-100F-2P
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間:2026-06-01
訪 問 量:905產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 廣皓天 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,電子/電池,電氣 |
高低溫冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱
產(chǎn)品詳情
冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱是一種用于模擬產(chǎn)品在溫度快速變化環(huán)境下耐受能力的可靠性測(cè)試設(shè)備。它通過氣動(dòng)或機(jī)械式切換,在兩至三個(gè)獨(dú)立溫區(qū)(高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū))之間迅速轉(zhuǎn)移樣品或?qū)霘饬鳎瑢?shí)現(xiàn)溫度的瞬間沖擊。設(shè)備通常采用觸控式智能控制系統(tǒng),可編程設(shè)定沖擊次數(shù)、駐留時(shí)間及循環(huán)周期,并具備故障自診斷與報(bào)警功能。
高低溫冷熱溫度沖擊試驗(yàn)箱
用途
主要用于考核電子、汽車、航空等領(lǐng)域的產(chǎn)品或材料在熱脹冷縮產(chǎn)生的應(yīng)力下,是否會(huì)發(fā)生結(jié)構(gòu)損傷、性能衰減或電氣故障。典型用途包括:半導(dǎo)體芯片的溫循篩選、PCB板的焊點(diǎn)可靠性驗(yàn)證、塑料外殼的耐冷熱開裂測(cè)試,以及電池、連接器、密封件等在全生命周期內(nèi)的耐受能力評(píng)估。
技術(shù)參數(shù)
溫度范圍:高溫區(qū)+60℃~+200℃,低溫區(qū)-70℃~-10℃(可定制)
沖擊溫度:-65℃~+150℃(根據(jù)型號(hào))
溫度恢復(fù)時(shí)間:≤5分鐘(負(fù)載條件下)
高溫到低溫切換時(shí)間:≤10秒
溫度均勻度:≤±2℃
溫度波動(dòng)度:≤±0.5℃
內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼,外箱為冷軋鋼板噴塑
箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)
箱體采用三箱式或兩箱式結(jié)構(gòu)。三箱式包含高溫室、低溫室和測(cè)試室,樣品不動(dòng),通過風(fēng)門切換實(shí)現(xiàn)沖擊;兩箱式通過吊籃移動(dòng)樣品在高低溫室間快速切換。內(nèi)膽使用加厚SUS304不銹鋼,經(jīng)久耐腐蝕;外殼采用高強(qiáng)度冷軋鋼板靜電噴塑。保溫層為高密度玻璃纖維棉或硬質(zhì)聚氨酯發(fā)泡,厚度達(dá)100mm以上,極大降低能量損耗。門框配備防結(jié)霜電加熱裝置,觀察窗為多層中空鋼化玻璃。
滿足標(biāo)準(zhǔn)
符合GB/T 2423.22(環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)N:溫度變化)、IEC 60068-2-14、GJB 150.5A(設(shè)備溫度沖擊試驗(yàn))、MIL-STD-810H、JESD22-A104(電子器件溫度循環(huán))等國內(nèi)外主要規(guī)范,可滿足出口及測(cè)試要求。
應(yīng)用場景
研發(fā)階段:篩選設(shè)計(jì)缺陷,評(píng)估材料與結(jié)構(gòu)的熱匹配性
生產(chǎn)階段:批量抽檢,剔除早期失效品
型式試驗(yàn):產(chǎn)品認(rèn)證前進(jìn)行耐候性驗(yàn)證
失效分析:復(fù)現(xiàn)因溫度突變引發(fā)的故障模式
適用行業(yè)
廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子(手機(jī)、電腦)、半導(dǎo)體(芯片、封裝器件)、汽車電子(ECU、傳感器)、新能源(動(dòng)力電池、充電樁模塊)、航空航天(航電設(shè)備、連接器)、化工塑料及金屬鍍層行業(yè)。




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