三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 溫度沖擊測(cè)試箱
用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè)國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及分子材料之物理性變化測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)不需要它的理想測(cè)試工具。

三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 溫度沖擊測(cè)試箱

產(chǎn)品介紹:

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱是來(lái)考核產(chǎn)品(整機(jī))、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力,該溫度沖擊實(shí)驗(yàn)?zāi)軌蛄私鈱?shí)驗(yàn)樣品一-次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化實(shí)驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及實(shí)驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。- 般用于研究、開(kāi)發(fā)至檢驗(yàn)、生產(chǎn)等廣泛領(lǐng)域。

三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 溫度沖擊測(cè)試箱

性能指標(biāo):

1.產(chǎn)品名稱:冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

型號(hào):TSD-252F-3P

2.樣品限制:

本試驗(yàn)設(shè)備禁止:

易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

生物試樣的試驗(yàn)或儲(chǔ)存

強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存

3.容積和尺寸:

3.1標(biāo)稱內(nèi)容積(L): 150L

3.2標(biāo)稱內(nèi)箱尺寸( mm) : W 500xH 500x D600

4.性能:

4.1測(cè)試環(huán)境條件:

環(huán)境溫度: 5~35°C

相對(duì)濕度≤85%RH、循環(huán)冷卻水溫s30°C

循環(huán)冷卻水供水壓勵(lì)為0.25 ~ 0.4MPa

沖擊溫度范圍

高溫區(qū)溫度: +60°C~+200°C. .

低溫區(qū)溫度: -10°C~-70°C或-10°C~-80°C。

高溫沖擊溫度范圍: + 60°C~+ 150°C。

低溫沖擊溫度范圍: -10°C~-55°C或一10°C~-65°C

溫度分布均勻度:s2.0°C

溫度回復(fù)時(shí)間/轉(zhuǎn)換時(shí)間:≤5min內(nèi)