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產(chǎn)品型號(hào)：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2026-03-16訪 問 量：766產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 廣皓天 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱是一款為大型試品或批量測(cè)試量身打造的大型環(huán)境模擬試驗(yàn)設(shè)備。本產(chǎn)品專門針對(duì)電子元器件在高低溫、濕熱環(huán)境下的可靠性測(cè)試而設(shè)計(jì)，可模擬自然界各種溫濕度條件，驗(yàn)證產(chǎn)品在存儲(chǔ)、運(yùn)輸和使用過程中的適應(yīng)性與穩(wěn)定性。
本設(shè)備主要用于測(cè)試電子元器件、電工電子產(chǎn)品及其他材料在高溫、低溫、交變濕熱或恒定濕熱環(huán)境下的參數(shù)變化與性能指標(biāo)。通過嚴(yán)格的溫濕度循環(huán)測(cè)試，幫助客戶評(píng)估產(chǎn)品的耐熱、耐寒、耐濕性能，為產(chǎn)品設(shè)計(jì)改進(jìn)、質(zhì)量鑒定及出廠檢驗(yàn)提供可靠依據(jù)。特別適用于大批量電子元器件的同時(shí)測(cè)試，極大提高檢測(cè)效率。
| 參數(shù)項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
|---|---|
| 溫度范圍 | -70℃～+150℃（可選A：0℃；B：-20℃；C：-40℃；D：-60℃；E：-70℃） |
| 濕度范圍 | 20%～98% RH |
| 溫度均勻度 | ≤2℃ （空載時(shí)） |
| 溫度波動(dòng)度 | ±0.5℃（空載時(shí)） |
| 濕度均勻度 | +2% -3% RH |
| 控溫精度 | ±0.1℃ |
| 升溫速率 | -40℃～100℃ ≤90min |
| 工作室尺寸 | 根據(jù)客戶需求定制，常見規(guī)格：2m×2m×2m、2.5m×3m×2m、3m×5m×2m、5m×6m×2m |
本設(shè)備采用模塊化庫板拼裝式設(shè)計(jì)，組合靈活、拆裝方便，便于日后搬遷擴(kuò)容。箱體底座采用槽鋼焊接網(wǎng)式框架，承重能力達(dá)200kg/平方米，確保長(zhǎng)期使用不變形。內(nèi)箱材質(zhì)為進(jìn)口SUS304優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，耐腐蝕、易清潔；外箱材質(zhì)采用優(yōu)質(zhì)彩鋼板或靜電噴塑處理；保溫層為硬質(zhì)聚氨酯泡沫+玻璃纖維，具有超低熱傳導(dǎo)率、高效節(jié)能、防水防潮等優(yōu)點(diǎn)。大門設(shè)計(jì)，配備內(nèi)外開啟拉手和多層中空電鍍膜加熱觀察窗，方便試驗(yàn)過程中觀察樣品狀態(tài)。
本設(shè)備采用外置可拆卸鍋爐式加濕器或表面蒸發(fā)方式。工作原理為將水加熱產(chǎn)生純凈蒸汽，由風(fēng)機(jī)均勻送入風(fēng)道，與循環(huán)空氣混合，提高相對(duì)濕度。加濕系統(tǒng)配備水位控制、防干燒保護(hù)、沉淀物收集裝置及液位觀察窗，加水方式為微型泵自動(dòng)補(bǔ)水，內(nèi)置不銹鋼儲(chǔ)水箱確保水質(zhì)清潔。除濕方式采用ADP臨界露點(diǎn)冷卻除濕技術(shù)，通過蒸發(fā)器表面低溫使空氣中水蒸氣冷凝排出。
本設(shè)備通過四大子系統(tǒng)協(xié)同工作：制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、加濕系統(tǒng)和除濕系統(tǒng)在智能控制器統(tǒng)一指揮下精準(zhǔn)運(yùn)行。溫度控制采用PID智能算法，通過PT100鉑電阻傳感器實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)箱內(nèi)溫度，動(dòng)態(tài)調(diào)節(jié)加熱或制冷功率，實(shí)現(xiàn)高精度控溫。濕度控制結(jié)合蒸汽加濕與機(jī)械制冷除濕，通過電容式濕度傳感器反饋信號(hào)，自動(dòng)平衡加濕與除濕速率。空氣循環(huán)系統(tǒng)采用多翼式離心風(fēng)機(jī)與科學(xué)風(fēng)道設(shè)計(jì)，確保箱內(nèi)溫濕度均勻分布，避免死角。
本產(chǎn)品嚴(yán)格遵循以下國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和試驗(yàn)方法：
GB/T 2423.1 低溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2 高溫試驗(yàn)方法
GB/T 2423.3 恒定濕熱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.4 交變濕熱試驗(yàn)方法
GJB 150.3 高溫試驗(yàn)
GJB 150.4 低溫試驗(yàn)
GJB 150.9 濕熱試驗(yàn)
MIL-STD-810F 環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)
本設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子電器、半導(dǎo)體、集成電路、PCB電路板、連接器、傳感器等各種電子元器件的可靠性測(cè)試。同時(shí)適用于航空航天、國(guó)防工業(yè)、汽車電子、新能源光伏、信息通信、科研院校等行業(yè)。無論是小型元器件批量測(cè)試，還是大型電子組件、整機(jī)設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性驗(yàn)證，本設(shè)備都能提供精準(zhǔn)可靠的試驗(yàn)環(huán)境，助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量與市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力。
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