THB-225PF 高低溫老化箱
是航空、汽車、家電、 科研等領(lǐng)域*的檢測設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其它產(chǎn)品材料進行高溫、低溫、濕熱度或恒定試驗的溫度環(huán)境變化參數(shù)及性能。

THB-225PF 高低溫老化箱

高低溫試驗箱設(shè)備應(yīng)用于國防工業(yè),航天工業(yè).自動化零組件,汽車部件,電子電器零組件,塑膠,化工業(yè),食品業(yè),制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品之耐熱.耐寒.耐干性能及研發(fā).品質(zhì)管理工程之試驗規(guī)范.

THB-225PF 高低溫老化箱

型號：THB-225PF

技術(shù)參數(shù)：

1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設(shè)定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.1-2008試驗A:低溫試驗方法;GB/T10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T2423.2-2008試驗B高溫試驗方法GB/T11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件;GB/T2423.22-2002試驗N溫度變化試驗方法;IEC60068-2-1:2007低溫試驗箱試驗方法;GJB150.4低溫試驗;
IEC60068-2-2:2007高溫試驗箱試驗方法; GJB150.3高溫試驗;IEC68-2-1試驗A:寒冷;
IEC68-2-2試驗B:干熱;