可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P
用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化測試其材料對高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機械的組件,無-不需要它的理想測試工具。

可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P

用途:

該設(shè)備主要是測試產(chǎn)品在高溫、低溫瞬間變化的氣候環(huán)境下的貯存、運輸和使用時的性能試驗,主要用于對電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其在模擬高溫、低溫時溫度瞬間變化的氣候條件下的適應(yīng)性試驗,對產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進行測試:

1.在研制階段用以暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷,評價產(chǎn)品可靠性達到預(yù)定指標的情況;

2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息;

3.對定型產(chǎn)品進行可靠性鑒定或驗收;

4.暴露和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應(yīng)力條件下的失效規(guī)律及有關(guān)的失效模式和失效機理;

5.為改進產(chǎn)品可靠性,制定和改進可靠性試驗方案,為用戶選用產(chǎn)品提供依據(jù)。

可程式 冷熱循環(huán)試驗箱 TSD- 80F-2P

樣品陽層架對試驗物的承重量: 2. 5kg以內(nèi)，如有澀重的測試物訪卜單時注明。

出溫上升時舊約!: 40uin

低溫卜降時舊約!: 80uin

品溫些溫變zu1島可儲子至: 60C 200C

低溫雪溫變zui低丁伴存至: 70C“ 10C 

溫變移動沖木時日仁: 10秒鐘內(nèi)

溫變沖十實復(fù)穩(wěn)定時但在: 3 5分鐘內(nèi)

此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，測試樣品*靜止。采用*之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),

強制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測試區(qū)，完成冷熱溫度沖擊測試。