電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性測(cè)試設(shè)備是一款高精度環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備，主要用于測(cè)試電子元器件、組件及材料在溫度急劇變化下的耐受能力與性能穩(wěn)定性。箱體采用高強(qiáng)度不銹鋼內(nèi)膽與高效保溫層，配備獨(dú)立高溫區(qū)、低溫區(qū)和樣品提籃或氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換系統(tǒng)，支持觸摸屏智能控制與數(shù)據(jù)記錄。

電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性測(cè)試設(shè)備生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗(yàn)設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費(fèi)者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

產(chǎn)品詳情

電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一款高精度環(huán)境可靠性測(cè)試設(shè)備，主要用于測(cè)試電子元器件、組件及材料在溫度急劇變化下的耐受能力與性能穩(wěn)定性。箱體采用高強(qiáng)度不銹鋼內(nèi)膽與高效保溫層，配備獨(dú)立高溫區(qū)、低溫區(qū)和樣品提籃或氣動(dòng)風(fēng)門(mén)切換系統(tǒng)，支持觸摸屏智能控制與數(shù)據(jù)記錄。

電子元器件冷熱沖擊試驗(yàn)箱 可靠性測(cè)試設(shè)備

用途

該設(shè)備用于模擬產(chǎn)品在存儲(chǔ)、運(yùn)輸及使用中可能遇到的劇烈溫度變化環(huán)境，評(píng)估其熱應(yīng)力耐受性和失效模式，常用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證、質(zhì)量控制及可靠性鑒定。

技術(shù)參數(shù)

• 溫度沖擊范圍：-65℃～+150℃

• 高溫區(qū)預(yù)熱溫度：+60℃～+200℃

• 低溫區(qū)預(yù)冷溫度：-10℃～-75℃

• 溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5分鐘

• 溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

• 溫度均勻度：≤±2℃

• 試驗(yàn)樣品提籃承重：5～50kg（按型號(hào)）

• 內(nèi)箱容積：50L、80L、150L、225L、500L可選

工作原理

采用兩箱式或三箱式結(jié)構(gòu)，通過(guò)高溫區(qū)、低溫區(qū)的獨(dú)立存儲(chǔ)及快速切換風(fēng)門(mén)或提籃移動(dòng)，使樣品在極短時(shí)間內(nèi)（數(shù)秒至數(shù)十秒）從高溫環(huán)境轉(zhuǎn)入低溫環(huán)境或反之，形成溫度沖擊。控制系統(tǒng)依據(jù)設(shè)定循環(huán)次數(shù)與駐留時(shí)間自動(dòng)運(yùn)行，并實(shí)時(shí)調(diào)節(jié)冷熱補(bǔ)償量。

主要功能及特點(diǎn)

• 高低溫快速?zèng)_擊，溫度恢復(fù)時(shí)間短

• 可編程多步驟循環(huán)試驗(yàn)（如GJB 150.5、MIL-STD-810、JEDEC標(biāo)準(zhǔn)）

• 觸摸屏+PLC控制，支持曲線顯示與USB導(dǎo)出

• 多重安全保護(hù)：超溫、過(guò)流、缺相、漏電保護(hù)

• 故障自診斷與報(bào)警提示

應(yīng)用場(chǎng)景

常見(jiàn)于電子元器件生產(chǎn)車間、第三方檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室、研究所質(zhì)檢中心，例如對(duì)貼片電容、IC芯片、PCB板、繼電器、連接器進(jìn)行熱疲勞測(cè)試，也可用于動(dòng)力電池模塊的極限環(huán)境驗(yàn)證。

技術(shù)特點(diǎn)

• 大功率制冷機(jī)組與高效加熱器協(xié)同控制

• 獨(dú)特風(fēng)道設(shè)計(jì)，減少溫沖過(guò)沖

• 低結(jié)霜設(shè)計(jì)，長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性高

• 支持遠(yuǎn)程監(jiān)控與數(shù)據(jù)追溯

應(yīng)用領(lǐng)域

廣泛應(yīng)用于消費(fèi)電子、汽車電子、航空航天電子、通信設(shè)備、醫(yī)療電子儀器、新能源及半導(dǎo)體行業(yè)，滿足產(chǎn)品認(rèn)證與可靠性提升需求。