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近日,廣皓天自主研發(fā)的 HT-QSUN 系列氙燈老化試驗箱,正式交付國內(nèi)頭部半導(dǎo)體封裝企業(yè)并完成調(diào)試投用。此次合作將助力客戶強化芯片封裝戶外可靠性驗證能力,為工業(yè)控制、汽車電子等領(lǐng)域芯片的長期穩(wěn)定應(yīng)用筑牢測試根基。
隨著半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)向高密度、微型化快速演進,芯片封裝材料長期暴露于戶外強光、溫濕度循環(huán)等復(fù)雜環(huán)境時,易出現(xiàn)塑封料老化、引腳氧化、膠體開裂等問題,嚴重影響終端產(chǎn)品使用壽命。傳統(tǒng)測試設(shè)備存在光照不均、光譜模擬精度不足等短板,難以精準復(fù)現(xiàn)戶外老化工況,無法滿足芯片嚴苛的可靠性要求。
廣皓天 HT-QSUN 系列氙燈老化箱搭載核心光譜動態(tài)修正技術(shù),可精準模擬全光譜太陽光,光譜匹配誤差控制在 ±2.5% 以內(nèi),復(fù)刻紫外線至紅外線的光照環(huán)境。設(shè)備采用定制化微型氙燈模組與高精度光學(xué)聚光系統(tǒng),光照均勻度達 97% 以上,可精準聚焦微小芯片封裝件,避免局部光照不均導(dǎo)致的測試偏差。同時集成溫濕度協(xié)同控制系統(tǒng),可同步模擬高溫、高濕、雨水噴淋等工況,實現(xiàn)光、熱、濕多應(yīng)力耦合加速老化測試。
交付過程中,廣皓天技術(shù)團隊提供全流程專屬服務(wù),完成設(shè)備安裝調(diào)試、操作培訓(xùn)及維護指導(dǎo),確保設(shè)備快速適配客戶研發(fā)與生產(chǎn)節(jié)奏。客戶表示,該設(shè)備可將原本 7-10 天的戶外老化測試周期縮短至 2-3 天,大幅提升研發(fā)效率,同時精準的測試數(shù)據(jù)為封裝材料選型與工藝優(yōu)化提供關(guān)鍵支撐。
此次合作是廣皓天在半導(dǎo)體可靠性測試領(lǐng)域的重要突破。未來,廣皓天將持續(xù)深耕電子測試設(shè)備賽道,以定制化解決方案與核心技術(shù)創(chuàng)新,助力半導(dǎo)體、新能源等行業(yè)客戶提升產(chǎn)品可靠性,賦能產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。



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