高低溫試驗箱在電子元器件可靠性測試中的技術應用

電子元器件可靠性測試通常分三個階段。預處理階段，將元器件置于常溫環境 24 小時消除存儲影響；試驗階段，依據標準設定高低溫循環程序，如在汽車電子元器件測試中，模擬 - 40℃極寒與 85℃高溫交替工況，持續數百小時；恢復階段，將元器件置于常溫常濕環境，檢測性能恢復情況。試驗過程中，溫濕度傳感器每 5 秒采集一次數據，形成動態曲線，用于分析元器件在溫變過程中的參數漂移、接觸不良等潛在問題。