電子芯片快速溫變試驗箱：檢測溫度驟變可靠性

在測試過程中，首先將電子芯片按標準安裝于試驗箱內，連接測試電路與數據采集設備。隨后，根據芯片應用場景與標準規范，設定 -55℃至 125℃的溫度變化范圍，溫變速率達 15℃/min，循環次數設為 50 次。在每次溫度驟變過程中，實時監測芯片的電氣參數，如工作電壓、電流、信號傳輸延遲等，同時借助紅外熱成像儀觀察芯片表面溫度分布與熱點變化。